表面形貌測量儀XM200
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XM系列表面形貌測量儀是在公司原有技術(shù)基礎(chǔ)上,吸收國內(nèi)外同類儀器經(jīng)驗并不斷進行優(yōu)化,用于測量各種機械零件表面微觀幾何結(jié)構(gòu)和宏觀幾何形狀的多參數(shù)精密儀器。
特點:
X方向采用高精密滑動導(dǎo)軌作為水平移動的直線基2.1K/s準(zhǔn),導(dǎo)軌移動的距離采用高精度的光柵技術(shù)進行計量;
Z方向立柱也采用高精密滑動導(dǎo)軌,200型采用編碼器進行測量,由電機-滾珠絲杠系統(tǒng)驅(qū)動;
可對各種平面及圓弧表面、溝槽、倒角、基準(zhǔn)面。
進行測量、 分析和評定:
測量軟件采用Windows平臺,采用國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)定義和評定,數(shù)學(xué)模型完整;具有調(diào)整工作臺可進行Y向及各種擺角調(diào)整,用戶可根據(jù)需要自由選擇,調(diào)整使用方便,功能齊全;測量參中,不僅包括GB3505中各種輪廓偏差、波紋度、粗糙度、等微觀面貌的分析評定參數(shù),還包括軸承行業(yè)中特有的溝型偏差、曲率偏差、溝槽尺寸、凸度、對數(shù)曲線、球基面半徑、鎖口高、雙溝中心距等專用尺寸參數(shù)。
測量精度高,差動電感傳感器測量靈敏性可達0.01 μ m以內(nèi),X向光柵靈敏性達0.5 μ m以內(nèi),Z方向可進行大量程高精度位移測量,精度達4μm。
測量控制部位多,不僅進行傳統(tǒng)的Z方向小位移測量和X方向的位移測量,還可進行Z方向的大位移測量;選用Y方向移動工作臺可以測量零件的三維表面型貌。
采用微機控制,可手動或自動循環(huán)測量、自動消除安裝誤差、自動進行量程變換、直接顯示所得形狀及各種參數(shù),并可打印輸出,具有標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫存儲數(shù)據(jù)。
通過增加臥式圓度測量臺,采用工件旋轉(zhuǎn)方式可精密測量最小可達1 mm鋼球的圓度、表面粗糙度,以及其他特殊結(jié)構(gòu)回轉(zhuǎn)工件或部分圓弧工件的圓度、表面粗糙度以及特殊尺寸的測量,如微型氣浮陀螺的螺旋槽尺寸測量等。
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